在激光散斑應(yīng)用于無損檢測領(lǐng)域過程中，出現(xiàn)了剪切散斑干涉（Shearography）和電子散斑干涉技術(shù)(ESPI)兩種技術(shù)，它們有什么異同，又各有什么特點呢？

ESPI和Shearography兩種技術(shù)是同宗的，都是基于全息干涉技術(shù)（Holography）的光學全場測量技術(shù)。

ESPI用激光二極管射出一束單獨的激光束，此激光束稱為參考光束，它通過一個透鏡后被擴展，然后投射到被檢測構(gòu)件表面，反射光與參考光束結(jié)合發(fā)生干涉（它們來自同一激光源，有固定的相位關(guān)系），產(chǎn)生干涉條紋，在某些區(qū)域兩個波的相位相同，產(chǎn)生相長干涉，形成明亮條紋，當兩個波的相位相反時則產(chǎn)生相消干涉，形成暗條紋，于是構(gòu)成了明暗相間的干涉條紋圖像。ESPI技術(shù)是以干涉條紋圖中的余弦函數(shù)的相位為測量對象，通常是利用對已知相移（通常是在參考光波中導(dǎo)入線性變化的相位）的被測光波采樣后獲得的光強分布進行處理以求得相位值。通過相位變化（即光程差）就可以獲取物體表面位移場的精確數(shù)據(jù)。

由于ESPI要讓反射光束與參考光束發(fā)生干涉，而且要對構(gòu)件進行外力加載，整個系統(tǒng)在檢測過程中不能有任何外界干擾，尤其是振動，只要位移稍有變化就會對檢測結(jié)果造成誤差，這樣限制了ESPI在實際應(yīng)用中檢測性能，于是便出現(xiàn)了Shearography技術(shù)。 

Shearography在光學設(shè)置上有了一些改進，參考光束被取代，而光學系統(tǒng)中采用剪切鏡片令漫反射的光線產(chǎn)生偏折，在像平面上產(chǎn)生兩個錯位的像，它們互相干涉，形成散斑干涉條紋圖像。因此，電子剪切散斑干涉是同一個物體的兩個剪切像的干涉。物面上相同的一個點經(jīng)過錯位后變成相鄰的兩個點，而錯位為X（相距X）的兩個點的反射光重合成同一個光路。

Shearography的這種檢測方法得到的是唯一的變形梯度，它不受剛性物體運動的影響，解決了Holography無法解決的避震問題，因此這種技術(shù)典型地應(yīng)用于生產(chǎn)線或維修中的缺陷識別，產(chǎn)生的斑點圖像不僅可以看見缺陷的所在位置，還可以顯現(xiàn)出被測試構(gòu)件表面變形的梯度，由于系統(tǒng)的高靈敏度，檢測時只需要小載荷而且是非破壞的。